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PCT高温高压加速寿命老化仪
所属分类:
光电半导体芯片测试仪器
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产品详情
产品说明
该设备主要是测试产品在高温、高温高湿及压力的气候环境下的贮存、运输和使用时的性能试验,主要用于对电工、电子产品,元器件、金属材料及其材料在模拟高温、高温高湿及压力的气候条件下,对产品的物理以及其它相关性能进行测试,测试后,通过检定来判断产品的性能是否能够达到要求,以便供产品的设计、改进、检定及出厂检验使用。密封性能的检测,相关之产品作加速寿命试验。
产品特点
●采用进口耐高温电磁阀双路结构,在**大程度上降低了使用故障率;
●独立蒸汽发生室,避免蒸汽直接冲击产品,以免造成产品局部破坏;
●门锁省力结构,解决**代产品圆盘式手柄的锁紧困难的缺点;
●试验前排冷空气;试验中排冷空气设计(试验桶内空气排出)提高压力稳定性、再现性;
●超长效实验运转时间,长时间实验机台运转1000小时;
●水位保护,透过试验室内水位Sensor检知保护;
●tank耐压设计,箱体耐压力(140℃)2.65kg,符合水压测试6kg;
●二段式压力安全保护装置,采两段式结合控制器与机械式压力保护装置;
●安全保护排压钮,警急安全装置二段式自动排压钮;
●全触控式控制器,支持U盘导出历史记录;
●温度控制器为进口品牌数显控制器,PT100感应器,指针式压力表;
●内置式储水箱.该设备具有欠相、缺水、压力、加热管空烧等保护装置;
核心技术参数
型号 | PCT-25 | PCT-35 | PCT-45 | PCT-55 |
内箱尺寸WxHxD(mm) | 300x250 | 350x450 | 450x550 | 550x650 |
外箱尺寸WxHxD(mm) | 750x1200x800 | 800x1250x800 | 900x1380x900 | 1050x1550x1100 |
饱和蒸汽温度范围 | 饱和蒸汽温度范围:100℃~135℃(143℃为特殊选用型)型);使用温度点:120℃一个大气压,133℃两个大气压; | |||
相对压力/**压力 | 相对压力:即压力仪表显示值; **压力:压力仪表显示值加1个环境大气压(即试验箱内实际值) | |||
饱和湿度 | 100%R.H.饱和蒸汽度 | |||
使用蒸汽压力(**压力) | 0.0Kg/cm²~2.0Kg/cm²(+101.3Kpa);(3Kg/cm²属于特殊规格) | |||
循环方式 | 水蒸气自然对流循环 | |||
安全保护装置 | 缺水保护、超压保护(具有自动/手动补水功能,自动泄压功能) | |||
配件 | 14 | 43 | 87 | 155 |
设备容积 | 无熔丝开关、压缩机过载保护开关、冷媒高低压保护开关、超湿度超温保护开关、保险丝、故障警告系统 | |||
电源 | AC220V;1Φ3线;50/60Hz |
饱和蒸汽温度、饱和蒸汽湿度、压力对照表
测试标准
●GB2423-2-1-89;GB2423-3-2-89;GB2423-3-89高温高压高湿老化箱执行与标准
●GB/T10586-1989湿热试验室条件;
●GB2423.3-93(1EC68-2-3)恒定湿热试验;
●MlL-STD810D方法502.2;
●GJB150.9-8温湿试验;
●GB2423.34-86、MlL-STD883C方法1004.2温湿度、高压组合试验;
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