产品关键词:
HAST未饱和高压加速老化试验机
所属分类:
光电半导体芯片测试仪器
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产品详情
产品特点
●控制箱和测试箱为整体式,上下式结构;
●箱体底部安装移动脚轮和定位脚杯;
●试验箱门采用前后推拉的方式来实现开关门,电动式的卡箍锁紧装置保证门**的密封,安全等;
●采用密闭空间加热水控制饱和水蒸气温度,控制试验空间压力;
●采用316#不锈钢冲孔折弯成网状,使用方便,物料架间间距可调节;
●采用钛管加热,永不生锈 P.I.D控制加热从而达到温度平衡;
●自制大水箱,水泵提升自动供水(可不停机连续试验)
核心技术参数
型号 | HAST-25 | HAST-35 | HAST-45 | HAST-55 |
内箱尺寸WxHxD(mm) | 300x250 | 350x450 | 450x550 | 550x650 |
外箱尺寸WxHxD(mm) | 850x1300x900 | 900x1350x900 | 1000x1480x1000 | 1150x1650x1200 |
蒸汽温度范围 | 蒸汽温度范围:100℃~135℃(143℃为特殊选用型) | |||
相对压力/**压力 | 相对压力:即压力仪表显示值;**压力:压力仪表显示值加1个环境大气压(即试验箱内实际值) | |||
蒸汽湿度 | 70~100%R.H.蒸汽湿度可调 | |||
使用蒸汽压力(**压力) | 0.0Kg/cm²~2.0Kg/cm²(+101.3Kpa);(3Kg/cm²属于特殊规格) | |||
循环方式 | 水蒸气自然对流循环 | |||
配件 | 不锈钢隔板两层 | |||
安全保护装置 | 缺水保护、超压保护(具有自动/手动补水功能,自动泄压功能) | |||
设备容积 | 14 | 43 | 87 | 155 |
电源 | AC220V;1Φ3线;50/60Hz |
温度、湿度、压力对照表
测试标准
●JESD22-A102E-2015 加速水汽抵抗性--无偏置高压蒸煮(PCT)
●JESD22-A118B.01-2021 加速水汽抵抗性--无偏压 HAST(无偏置电压未饱和高压蒸汽)
●IEC60068-2-66:1994(GB/T 2423.40-2013)环境试验 第2 部分:试验方法 试验Cx:未饱和高压蒸汽恒定湿热
●IEC60749-4:2017(GB/T 4937.4-2012)半导体器件 机械和气候试验方法 第4 部分:强加速稳态湿热试验(HAST)
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